X射線熒光光譜儀,FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-μ®,FISCHER的產(chǎn)品介紹：

測量系統(tǒng)擁有先進的多毛細孔X射線聚焦裝置，既能有效地縮小測量點
的面積，又能大幅加強射線的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器，特別適用于在小工件上測
量超薄鍍層的厚度或者進行痕量分析.

帶有三種放大倍率變焦的高像素視頻系統(tǒng)能**地定位樣品，即使是非常細的線材或者是半導
體微小的接點都能高質量地顯示出測量點所在位置。激光點作為輔助定位裝置進一步方便了樣品
的快速定位。

 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-μ®的特征：

帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管，可
選鉬管。*高工作條件： 50kV， 50W
·X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探
測器
·多毛細孔X射線聚焦裝置，測量點約20-40
μm FWHM（半高寬）
·4個可切換基本濾片
·帶彈出功能的可編程XY平臺
·視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十
字線上有經(jīng)過校準的刻度標尺，而測量點
實際大小也在圖像中顯示。

 典型應用領域：

測量PCB、引線框架和晶片上的鍍層系統(tǒng)
測量微小工件和線材上的鍍層系統(tǒng)
分析微小工件的材料成分