HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀— SZ-100V2

儀器用途及應(yīng)用范圍：

SZ-100V2擁有兩個(gè)角度檢測(cè)器，可測(cè)量不同濃度樣品( 高濃度、稀釋樣品、有色樣品)**Zeta 電位樣品池設(shè)計(jì)，電極間距小，石墨涂層，可減小所加電壓、*小化水的電解效應(yīng)，延長(zhǎng)樣品池壽命。
一.生命科學(xué)

蛋白質(zhì)團(tuán)聚的粒徑檢測(cè)

脂質(zhì)體、病毒粒徑測(cè)量

蛋白質(zhì)的Zeta 電位、等電點(diǎn)測(cè)量

二.半導(dǎo)體材料

CMP 拋光液粒徑分析

CMP 拋光液在線粒徑分布監(jiān)控

CMP 研磨液Zeta 電位分析

硅片切削液粒徑分布分析
產(chǎn)品特點(diǎn)：

粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測(cè)定范圍：0.3 nm ～ 10 μm

Zeta 電位測(cè)量原理：激光多普勒電泳法

Zeta 電位測(cè)量范圍：-500 mV ~ +500 mV

分子量測(cè)量原理：Debye plot

分子量測(cè)量范圍：1000 ～ 2×107 Da

測(cè)量角度：90° 、173°和17°

樣品量：12 μL ～ 1000 μL
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結(jié)合旗下具有200多年歷史品牌JobinYvon光譜技術(shù)，HORIBA一直致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進(jìn)的檢測(cè)和分析工具及解決方案，如:光學(xué)光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進(jìn)檢測(cè)技術(shù)。

如今，HORIBA高品質(zhì)科學(xué)儀器已成為全球科研、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的優(yōu)先選擇